新研发的碰撞池技术极大地降低了干扰，从而实现了高灵敏度，进样系统和离子传输界面维护简单，保证稳定性。另外，系统支持LC-ICPMS等联用技术。

发射光谱分析装置可快速测定固体金属样品的元素组成，是在炼铁、铝冶炼工艺管理用中必不可少的手段。

PCEDX Navi同样可应对使用转台（选购件）的分析。 可以轻松切换样品图像确认界面和样品位置确认界面。

能量色散型X射线荧光分析仪 EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。

在波长色散型装置中，世界首创250μm微区分布成像分析功能（已取得专利）

高度自动化的分析，省力省时

不受震动、声音和外界影响，无需专门的风挡

在大气·液体环境中实现真空型SPM的性能水平！

更加方便、更加顺利地完成超大范围观察和测量。 实现了自由切换操作的LEXT OLS4500，闪亮登场。

业界大功率的600W单色化Al Kα X射线源，确保高的分析灵敏度

专利的锥形块体式阳极靶，抗污染能力极强

Axis Supra标配进样室定位光学显微镜，可以在进样预抽真空时定位多样品的分析位置，然后转入分析室实施自动分析。

通过对光路和检测器的优化，灵敏度提高了10倍，因此能够轻松应对浓度在0.1ppm到200000ppm之间的样品。

测量结果不受极少量的污染物影响。