Avability: In stock
120 × 90,对象温度范围:–20°C至+250°C, 精度: 环境温度为10°C 至35°C及对象温度高于+0°C的情况下,±2°C或读数的±2%
操作简单测量范围0~199999Lux
温度范围 500-2500℃
可选择自动校准或手动校准
数字IC测试仪,支持54/74系列TTL和4000/4500系列高速CMOS
高温型MS Pro(-32-760℃)
测量范围 mm 0-150分辨力 mm 0.01精度 mm ±0.03
测量范围 mm 0-200 分辨力 mm 0.01 精度 mm ±0.03
■ 指针式刻度盘易于读取测量数值过程 ■ 大可测量 10000 勒克斯 ■ 光学探头采用硅光电二极管
10Hz~300KHz LCR测试仪,频率连续可调,0.05%精度
0-36V/0-10A,功率360W直流电源
压力校验仪 -1 至 1 PSI,(-68.9 mbar 至 68.9 mbar,-6.89 至 6.89 kPa)
温度测量范围:-20 °C 至 + 250 °C,精度 ± 2 °C 或 2 %(25 °C 时,取读数较大值)
CA6472接地电阻的测量范围,为0.01 到 99.99kΩ,自动量程功能,可自动切换至佳测量量程、并选用佳测量频率及佳测量电流。测量频率可从40 到 5078Hz组态设置(手动或自动)
显示单位可选(T,A/m,G);操作简单,轻松测量;标配PC应用软件
基本精度:0.1%;频率:50Hz‐100kHz 共 10 点;LCD 显示;带变压器参数测试功能