BTX台式XRD系统是一款速度快、成本低、占地面积不大的台式XRD仪器，不仅可对材料的主要成份、次要成份和微量成份进行全晶相辨别，而且还可以对从钙到铀的各种元素进行快速XRF扫查。系统对样品进行极少准

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Extech 475040: 数字测力计 推/拉测量在公斤,磅,盎司和牛顿单位 ±0.4%的准确率 475040是一个数字测力计5位数的液晶显示器和峰值。 负载细胞测量传感器。

475040-SD数字测力计/数据记录仪日期、时间戳和商店2米推/拉读数在Excel格式一个SD卡容易转移到个人电脑。 以一个5位数的液晶显示器与峰值。 负载细胞测量传感器。 超量程的,低电池

475044是一种高容量力量计5位数的液晶显示器和峰值。 负载细胞测量传感器。 整个范围,低电池和先进的功能指标。 20公斤/ 44.1磅/ 196.1牛顿测量能力。 可选择的快/慢的响应时间。

475044-SD数字测力计/数据记录仪日期、时间戳和商店2米推/拉读数在Excel格式一个SD卡容易转移到个人电脑。 以一个5位数的液晶显示器与峰值。 负载细胞测量传感器。

475055是一种高容量测力计。 测量范围从0.05到100公斤,0.05到220磅,0.2到980牛顿。 基本0.5的准确性。 紧张或压缩,峰值保持和零功能。 正/反向显示,便于可读性。

MiniTest 725 FN1.5涂层测厚仪，测量黑色金属和有色金属涂层，60密耳/ 1500微米。内置探头

MiniTest 725 N0.2，测量高达8密耳/ 200微米的有色金属涂层。内置探头

MiniTest 725 F0.5，测量黑色金属涂层，高可达20密耳/ 500微米。内置探头

MiniTest 725 N0.7; 涂层测厚仪，测量有色金属涂层，30密耳/ 700微米。内置探头

MiniTest 725 F2; 涂层测厚仪，测量黑色金属涂层，80密耳/ 2000微米。内置探头

MiniTest 725 F5; 涂层测厚仪，测量黑色金属涂层，200密耳/ 5000微米。内置探头

MiniTest 725 F15，涂层测厚仪，测量黑色金属涂层，600 Mils / 15000 Microns（15mm）。内置探头

MiniTest 725 F0.5，测量黑色金属涂层，高可达20密耳/ 500微米。内置探头

MiniTest 725 F5; 涂层测厚仪，测量黑色金属涂层，200密耳/ 5000微米。内置探头

MiniTest 725 FN5; 涂层测厚仪，测量黑色金属和有色金属涂层，200密耳/ 5000微米。内置探头

MiniTest 725 FN 2.6; 涂层测厚仪，测量黑色金属和有色金属涂层，100密耳/ 2600微米。内置探头

MiniTest 725 F2.6; 涂层测厚仪，测量黑色金属涂层，100密耳/ 2600微米。内置探头

MiniTest 725 N2.5; 涂层测厚仪，测量有色金属涂层，100密耳/ 2500微米。内置探头